為便于供應(yīng)商及時(shí)了解政府采購(gòu)信息， 根據(jù)《財(cái)政部關(guān)于開(kāi)展政府采購(gòu)意向公開(kāi)工作的通知》 （財(cái)庫(kù)〔〕號(hào)）等有關(guān)規(guī)定，現(xiàn)將南京理工大學(xué)年政府采購(gòu)意向公開(kāi)（第批）政府采購(gòu)意向公開(kāi)如下： 序號(hào) 采購(gòu)項(xiàng)目名稱 意向編號(hào) 采購(gòu)品目 采購(gòu)需求概況 預(yù)算金額(萬(wàn)元) 預(yù)計(jì)采購(gòu)日期 備注 探針式表面輪廓儀 角度量?jī)x 在電子器件和材料表征中，薄膜厚度和表面粗糙度通常是一個(gè)非常重要又獲取成本較高的關(guān)鍵參數(shù)，對(duì)于器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和制備工藝優(yōu)化有著極其重要的作用。較常見(jiàn)的薄膜形貌表征設(shè)備有橢偏儀、表面輪廓儀（臺(tái)階儀）和原子力顯微鏡等，其中橢偏儀只能測(cè)試透明薄膜厚度，且受薄膜表面粗糙度影響較大；原子力顯微鏡雖然精度最高，但造價(jià)昂貴且能夠觀測(cè)的區(qū)域非常?。粚?duì)于較大尺寸的非透明薄膜厚度及表面粗糙的表征需求，表面輪廓儀是最為合適的設(shè)備。 設(shè)備核心指標(biāo)需求： . 最大掃描長(zhǎng)度≥； . 垂直方向的掃描范圍≥微米； . 測(cè)試垂直分辨率≤. 年月 本次公開(kāi)的采購(gòu)意向是本單位政府采購(gòu)工作的初步安排，具體采購(gòu)項(xiàng)目情況以相關(guān)采購(gòu)公告和采購(gòu)文件為準(zhǔn)。 南京理工大學(xué)招標(biāo)辦公室 年月日